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InPおよびSiPファウンドリ、商用モデリングツール、フォトニックテスト機能で構成される産業エコシステムの開始により、フォトニック集積回路（PIC）技術とアプリケーションの進歩が加速しています。パッケージレベルから半導体プロセスに光学テストをさらに深くすることは、パフォーマンスと歩留まりを確保するための重要なステップです。ウェーハ、バー、チップのステージでのテストの重要な側面は、プローブ位置の最適化と偏光アライメントを含む、高速で再現可能な光結合です。光通信業界向けに開発された高度な方法と機器は、現在、この新しい環境に適応しています。

FormFactorとKeysight Technologiesに参加して、無料のオンデマンドウェビナーを開催し、PIC、シリコンフォトニック業界、およびDC、RD、フォトニクステストの混合に対処する必要がある現在の課題について紹介します。ウェビナーをリードするのは、Keysight Laboratoriesの部門マネージャーであるDoug Baneyと、FormFactorのシステムエンジニアであるJoe Frankelです。

Dougは現在、Keysight Labsの部門マネージャーであり、マイクロ波試験、非線形マイクロ波モデリング、ナノ測定、測定自動化、フォトニクス測定、および統合フォトニクスアプリケーションの研究を担当しています。 JoeはFormFactorのシステムエンジニアで、プローブステーションオートマトンに重点を置いています。ウェビナーの司会者は、Lightwaveの編集ディレクター兼アソシエイトパブリッシャーのStephen Hardyです。

こちらからウェビナーに登録してください。ウェビナーをダウンロードして、任意のモバイルデバイスで視聴したり、車内で聞いたりすることもできます。

楽しい！