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カスケードプローブシステム

Cascade Probe Systems

所有コストを削減しながらプロセスパフォーマンスを向上させる、オンウェーハプロービングおよびボードテスト用のプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供します。当社のプローブシステムは、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式で利用できます。

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    カスケードプローブ

    Wafer Test Probes

    ウェーハ、パッケージ、およびボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナル、DCプローブファミリは、さまざまなプローブ環境の課題に対応できるように設計されています。

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      プローブカード

      Probe Cards

      メモリ、RF、ファウンドリ、およびロジックデバイス向けの高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供し、全体的な生産コストの削減、歩留まりの向上、「ムーア以上」の高度なパッケージング技術の実現を支援します。

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        計測学

        Metrology Systems - FRT Tools

        FormFactorの会社であるFRTは、開発生産や品質管理などのさまざまな分野向けの強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構造により、FRTツールは複数のアプリケーションに使用できます。

        詳細@FRT

          テストの専門知識

          Test Expertise

          FormFactorは、特性評価、モデリング、信頼性、設計のデバッグから、認定と生産テストに至るまで、設計から生産までの一連の作業全体にわたって顧客をサポートします。

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            会社

            Probe Card Manufacturing Company

            お客様は、実績のある製品ポートフォリオと経験豊富なエンジニアに頼って、今日のテストおよび測定の課題に対応しています。

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              セールス&サービス

              Probe Sales & Service

              お住まいの地域の担当者をすばやく見つけて、セールスおよびサポートの質問に答えてください。

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                    • 300 MMプローブシステム
                      • CM300
                      • PM300
                      • すべてを見る…
                    • (専用システム)
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                      • ボードテストシステム
                    • 電力システム
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                  会社 ブログ 2018年3月1日

                  ブログ

                  Conquering the Silicon Photonics Production Bottleneck

                  最適化されたテスト方法で光集積回路産業をスケールアップ

                  2018年3月1日

                  FormFactorとKeysight Technologiesに参加して、無料のオンデマンドウェビナーを開催し、PIC、シリコンフォトニック業界、およびDC、RD、フォトニクステストの混合に対処する必要がある現在の課題について紹介します。

                  InPおよびSiPファウンドリ、商用モデリングツール、フォトニックテスト機能で構成される産業エコシステムの開始により、フォトニック集積回路(PIC)技術とアプリケーションの進歩が加速しています。パッケージレベルから半導体プロセスに光学テストをさらに深くすることは、パフォーマンスと歩留まりを確保するための重要なステップです。ウェーハ、バー、チップのステージでのテストの重要な側面は、プローブ位置の最適化と偏光アライメントを含む、高速で再現可能な光結合です。光通信業界向けに開発された高度な方法と機器は、現在、この新しい環境に適応しています。

                  FormFactorとKeysight Technologiesに参加して、無料のオンデマンドウェビナーを開催し、PIC、シリコンフォトニック業界、およびDC、RD、フォトニクステストの混合に対処する必要がある現在の課題について紹介します。ウェビナーをリードするのは、Keysight Laboratoriesの部門マネージャーであるDoug Baneyと、FormFactorのシステムエンジニアであるJoe Frankelです。

                  Dougは現在、Keysight Labsの部門マネージャーであり、マイクロ波試験、非線形マイクロ波モデリング、ナノ測定、測定自動化、フォトニクス測定、および統合フォトニクスアプリケーションの研究を担当しています。 JoeはFormFactorのシステムエンジニアで、プローブステーションオートマトンに重点を置いています。ウェビナーの司会者は、Lightwaveの編集ディレクター兼アソシエイトパブリッシャーのStephen Hardyです。

                  こちらからウェビナーに登録してください。ウェビナーをダウンロードして、任意のモバイルデバイスで視聴したり、車内で聞いたりすることもできます。

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