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シリコンフォトニクス（SiPh）デバイス用の新しいエッジカップリングプローブソリューション
2020年3月12日
先日、CM300xiプローブステーションのシリコンフォトニクス（SiPh）ソリューションを強化する新しいエッジカップリング機能を発表しました。
2020年2月20日
高度なミリ波およびテラヘルツ測定–自律RF測定アシスタントで強化
過熱ミリ波およびテラヘルツ測定のための当社独自のソリューションは、困難を克服するために、新しく開発された独自のアプローチを取り入れています...
2020年1月30日
極低温プロービング環境用のPAC200プローブステーション
PAC200半自動極低温プローブステーションは、極低温プロセスで最大300 mmのウェーハおよび基板の自動試験に最適なソリューションです。
2019年12月12日
Genius教育キット– RFおよびマイクロ波テスト用のターンキーSパラメータ測定システム
Genius Educationキットには、非常に正確な測定を実行するためのすべての重要なコンポーネントが含まれています。プローブステーション、プローブ、プローブ位置だけでなく...
2019
2019年10月10日
最高精度の測定のためのDC、RF、および光学プローブポジショナー|続きを読む
2019年9月19日
FormFactorプローブステーションでの高度なミリ波およびテラヘルツ測定–新しいソリューションと4つの優れた機能|続きを読む
2019年7月11日
自律型RF測定アシスタント–真のハンズフリーRFキャリブレーションと複数の温度での測定により、精度と市場投入時間を改善|続きを読む
2019年4月25日
Siおよび先進のGaN / SiCデバイスをウエハ上でテストする際の4つの課題|続きを読む
2019年4月11日
MicroVacチャック–薄型の高出力RFデバイスの歩留まりとテスト精度を改善|続きを読む
2019年2月14日
新興科学におけるテラヘルツアプリケーションの探索|続きを読む