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プローブシステム

Cascade Probe Systems

所有コストを削減しながらプロセスパフォーマンスを向上させる、オンウェーハプロービングおよびボードテスト用のプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供します。当社のプローブシステムは、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式で利用できます。

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    カスケードプローブ

    Wafer Test Probes

    ウェーハ、パッケージ、およびボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナルおよびDCプローブのファミリーは、幅広いプロービング環境の課題に対応するように設計されています。

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      プローブカード

      Probe Cards

      メモリ、RF、ファウンドリ、ロジックデバイス向けの高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供し、全体的な生産コストを削減し、歩留まりを向上させ、「ムーア以上」の高度なパッケージングテクノロジーを実現します。

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        計測学

        Metrology Systems - FRT Tools

        FormFactorの会社であるFRTは、開発生産や品質管理などのさまざまな分野向けの強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構造により、FRTツールは複数のアプリケーションに使用できます。

        詳細@FRT

          テストの専門知識

          Test Expertise

          FormFactorは、特性評価、モデリング、信頼性、設計のバグ除去から、認定および製造テストに至るまで、設計から製造までの連続体全体を通じてお客様をサポートします。

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            会社

            Probe Card Manufacturing Company

            お客様は、実績のある製品ポートフォリオと経験豊富なエンジニアを利用して、今日のテストと測定の課題に対応しています。

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              セールス&サービス

              Probe Sales & Service

              お住まいの地域の担当者をすばやく見つけて、販売とサポートに関する質問に答えてください。

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                • 製品
                  • プローブシステム
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                    • 150MMプローブシステム
                      • MPS150
                      • 天才教育キット
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                      • PM8 / EPS200
                      • すべてを見る…
                    • 300MMプローブシステム
                      • CM300
                      • PM300
                      • すべてを見る…
                    • (専用システム)
                    • 自律アシスタント
                      • 自律DC
                      • 自律RF
                      • 自律型SiPh
                    • ボードレベルのシステム
                      • ボードテストシステム
                    • パワーシステム
                      • テスラ
                    • 高度なテスト
                      • 真空/低温/圧力システム
                    • ソフトウェア
                      • Velox
                      • WinCal XE
                    • 付属品
                      • eVue顕微鏡
                      • ポジショナー
                      • チャック
                      • 防振表
                      • ShieldEnclosure™
                        •  
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                    • 追加の製品/プログラム
                      • カスタムプローブシステム
                      • 認定中古機器
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                    • インフィニティ
                      • インフィニティプローブ–同軸
                      • InfinityXT™プローブ–同軸
                      • インフィニティ導波管プローブ
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                      • | Z | Probe®Power
                    • T波
                      • T波プローブ
                    • RFマルチコンタクト
                      • InfinityQuad
                      • ACP-Qプローブ
                      • Unityプローブ
                      • マルチ-| Z |調査
                      • | Z | ProbeWedge
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                    • DCパラメトリック
                      • DCP100シリーズプローブ
                      • DCP-HTRシリーズプローブ
                    • DCマルチコンタクト
                      • DC-Qプローブ
                      • アイパスプローブ
                      • WPHプローブ
                    • DC電源
                      • 大電流プローブ
                      • 高電圧プローブ
                      • 超高出力(UHP)
                    • 専門
                      • 抵抗性のマッチングと終了
                      • 光学プローブ
                      • 極低温プローブ
                    • シグナルインテグリティ
                      • FPCプローブ
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                      • 匠
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                      • ピラナ
                      • ピラミッドアクセルテストフィクスチャ
                      • ピラミッド-MW
                      • ピラミッドRFPシリーズ
                    • キャリブレーションツール
                      • ピラミッド校正基板
                  • 計測学
                    • 計測システム
                      • MicroProf®AP
                      • MicroProf®FS
                      • MicroProf®FE
                      • MicroProf®MHU
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                      • MicroProf®300
                      • MicroProf®200
                      • MicroProf®100
                • テストの専門知識
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                    • ラボからファブへ
                  • アプリケーション
                    • 5Gデバイス
                    • 高度なパッケージング
                    • 極低温装置
                    • DCパラメトリック検定
                    • 低周波ノイズ
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                    • パワー半導体
                    • シリコンフォトニクス
                    • VCSELとMicroLED
                  • テクノロジー
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                  • 出版物
                    • テクニカルペーパー
                    • ケーススタディ
                    • インサイトプレゼンテーションのテスト
                  • MEASUREONEリーダーシップアライアンス
                    • MeasureOneプログラムの概要
                    • 1 / fデバイスの特性評価
                    • 回路の特性評価
                    • 極低温/磁気プロービング
                    • パワー半導体プロービング
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                    • SパラメータとDCパラメトリック
                    • シリコンフォトニクステスト
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                資産4
                  会社 プレスリリース 2018年6月12日

                  プレスリリース

                  Autonomous RF Measurement Assistant on 200 mm Probe Station SUMMIT200

                  FormFactor、RFプローブシステムの生産性の飛躍的な向上を発表

                  2018年6月12日

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                  Contact Intelligence™テクノロジにより、正確で自律的な測定と市場投入期間の短縮が可能

                  カリフォルニア州LIVERMORE - (Globe Newswire - 2018年6月12日) - 半導体業界の大手電気テストおよび測定サプライヤであるFormFactor、Inc.(NASDAQ:FORM)は本日、Contact Intelligenceテクノロジを拡張したことを発表しました。 Contact Intelligenceにより、FormFactorの高度なプローブシステムは自動的かつ自律的にリアルタイムでテスト環境の変化に適応し、お客様は大量のRFデータをより迅速に収集することができます。 5Gデバイスを市場に投入するという競争が激しくなるにつれて、市場投入までの時間を短縮するために、より高い生産性が必要とされています。

                  FormFactorのContact Intelligenceテクノロジは、スマートなハードウェア設計と革新的なソフトウェアアルゴリズムを組み合わせて、エンジニアリングラボや多くの生産アプリケーションで正確なプローブとパッドの位置合わせと電子的な再キャリブレーションを提供します。その新しいRFソリューションの導入により、FormFactorはRF、DCおよびシリコンフォトニクス(SiPh)テストのためのコンタクトインテリジェンスアプリケーションを特化したものになりました。

                  自律RF
                  5G(sub-6から70GHz以上までの複数の高周波帯域を持つ)や自動車用通信機器などの新しい高周波ICには、最初の繰り返しで動作する機器を確実にするための最高品質のプロセス設計キット(PDK)が必要です。従来のシステムおよび方法では、システムが常にドリフトするときに再較正にかなりの時間を費やすか、または試験温度を意図的に変化させてプローブを再配置する必要があります。より高い周波数では、キャリブレーションと測定はプローブ配置エラーにより敏感になり、より多くのキャリブレーションドリフトがあるので、再キャリブレーションがより頻繁に必要とされます。時間と温度の変化に応じて、Contact Intelligenceはオペレータの介入なしにこれらの調整を自動的に行います。その結果、より正確なPDKと市場投入期間の短縮のために、短時間でより多くのデバイスをテストできます。

                  自律DC
                  DCアプリケーションでは、Contact Intelligenceは自動的に設定温度を検知し、システムが安定するまで正しい時間待機して応答します。これにより、オペレータがいなくても長いテストルーチンを複数の温度で実行できます。 Contact Intelligenceは、スマートソフトウェア、プローブチップ認識アルゴリズム、および高度なプログラマブルポジショナの組み合わせを使用して、最小25 µmのパッドでもプローブとパッドの動的アライメントを提供します。

                  自律型SiPh
                  FormFactorの統合SiPhソリューションは、ウェハ上に配置された光ファイバのサブミクロン操作を可能にし、自動的にファイバ結合位置を最適化します。 Contact Intelligenceはマシンビジョン技術を使用して、シータのX、Y、Z軸のキャリブレーションとアライメントを自動化し、箱から出してすぐに測定できるようにし、数日から数週間かかるものを数分から数分に短縮しました。自律DCおよびRFと組み合わせると、測定オプションは、オプティカル - オプティカルからフォトダイオード、オプティカルモジュレータなどにまで広がります。

                  FormFactorのCEO、Mike Slessorは、次のように述べています。 「温度と時間の経過による変動を自動的かつ自律的に調整することで、テストエンジニアに新しい運用モデルを提供しました。これは、FormFactorがオペレータの介入を少なくしてデータ作成までの時間を短縮し、顧客の製品化までの時間を短縮する方法のもう1つの例です。」

                  FormFactorの新しい自律RFシステムは、6月12〜14日にフィラデルフィアで開催される国際マイクロ波シンポジウム(IMS)2018のブース1531で展示されます。http://www.formfactor.com/contactintelligence。

                  ###

                  FormFactorについて

                  FormFactor、Inc.(NASDAQ:FORM)は、特性評価、モデリング、信頼性、設計デバッグから、認定および製造テストまで、ICの全ライフサイクルに沿った不可欠なテストおよび測定技術の大手プロバイダです。半導体企業はFormFactorの製品とサービスを利用して、デバイスの性能を最適化し、歩留まりに関する知識を向上させることで収益性を高めています。当社は、アジア、ヨーロッパ、および北米の施設ネットワークを通じて顧客にサービスを提供しています。詳細については、当社のウェブサイトwww.formfactor.comをご覧ください。

                  FormFactorのロゴとContact Intelligence™はFormFactor、Incの商標です。

                  貿易連絡先
                  デビッドビエラ
                  コーポレートコミュニケーション
                  (925)290-4182
                  david.viera@formfactor.com

                  お問い合わせ先
                  スタン・フィンケルシュタイン
                  投資家向け広報
                  (925)290〜4321
                  ir@formfactor.com

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