プレスリリース

SmartMatrix 3000XPは、最大3000のダイに対して同時に300 mmウェーハテストを提供します

カリフォルニア州リバモア–（Globe Newswire – 2020年5月29日）–大手半導体テストおよび測定サプライヤーであるFormFactor、Inc.（NASDAQ：FORM）は本日、SmartMatrix 3000XPプローブカードのリリースを発表し、 DRAMウェーハテスト。新しいSmartMatrix 3000XPプローブカードにより、DRAMメーカーは、FormFactor独自のTester Resource Enhancement（ATRE）およびMEMSプローブテクノロジーを利用して、1回のタッチダウンで3000ダイ以上をテストできます。新しいブレークスルーにより、以前の機能に比べて約1000の追加ダイの同時テストが可能になり、ダイあたりのテストコストを25％以上削減できます。

DRAM業界では、以前の1Xおよび1Yノードから1Zおよび1αナノメートルプロセスノードへの移行により、ウェーハ上のダイ数が増加する傾向が続いています。その結果、ウェーハ上のすべてのダイを同時にテストするフルウェーハDRAMプローブカードは、歩調を合わせる必要があります。 SmartMatrix 3000XPは、FormFactorの実績のあるスケーラブルなDRAMプローブカードアーキテクチャに基づいて構築されており、新しいカスタムエレクトロニクスを組み込んでシグナルインテグリティを強化すると同時に、大規模なテスターリソース共有を活用して1Zおよび1αナノメートルノードでの高度な並列テストを可能にします。市場調査会社IC Insightsによると、1Z DRAMノードは今年後半に大量生産に移行する予定です。

「当社の高度なDRAMプローブカードに組み込まれたテクノロジーは、テストコストを抑え、テストセルのスループットを向上させ、大量生産に迅速に対応する方法を顧客に提供します」と、プローブビジネスユニットのシニアVP兼GMであるマットロシーFormFactorで。 「スケーラブルなMEMSプローブテクノロジーを備えたSmartMatrixプローブカードは、顧客の積極的なダイ収縮ロードマップに対応しながら、歩留まりとパフォーマンスに関する知識を加速するのに役立ちます。」

SmartMatrix 3000XPプローブカードの主な機能は次のとおりです。

•独自のTTRE（Terminated Tester Resource Enhancement）テクノロジにより、低コストで3000ダイの並列テストが可能
•超高密度のスイッチ密度ATRE（Advanced Tester Resource Enhancement）コンポーネントにより、既存の520mm PCBテスタープラットフォームにコンポーネントを効率的に配置できます。
•単一のプローブカード設計で最適な運用効率を実現する、-40Cから125Cの業界最先端のテスト温度範囲
•実績のある低荷重3D MEMSプローブテクノロジー。1Zおよび1αの技術ノードのピッチ要件で、カードあたり150,000を超えるプローブを実現します。このプラットフォームは、超小型DRAMダイ向けの次世代3D MEMSプローブテクノロジーをサポートしています。
•ウェーハソートで最大200 MHzのテストクロックレート、テスト時間を犠牲にすることなくスループットとテストカバレッジを大幅に向上

SmartMatrixの詳細については、www.formfactor.com / contact-salesにアクセスしてください。

FormFactorについて
FormFactor、Inc.（NASDAQ：FORM）は、計測および検査、特性評価、モデリング、信頼性、設計デバッグから認定および製造テストまで、ICライフサイクル全体に沿った重要なテストおよび測定技術のリーディングプロバイダーです。半導体企業は、FormFactorの製品とサービスを利用して、デバイスのパフォーマンスを最適化し、歩留まりに関する知識を進歩させることで、収益性を高めています。同社は、アジア、ヨーロッパ、北米の施設ネットワークを通じて顧客にサービスを提供しています。詳細については、当社のウェブサイトwww.formfactor.comをご覧ください。

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