CM300xi-SiPh

CM300xi-SiPhの概要

シリコンフォトニクスウエハとダイレベルのプローブソリューションを統合した300 mmプローブステーション

CM300xi-SiPh 300 mmプローブステーションは、市場で最初に検証された統合測定ソリューションであり、設置後すぐにエンジニアリングおよび生産で実証済みの最適化された光学測定を可能にします。このユニークな自律SiPh測定アシスタントプローブステーションに対する光学位置決めハードウェアを正確に較正し、統合システムの性能を検証する画期的な機能セットを提供します。

高度なキャリブレーションのための革新的なOptoVue、インテリジェントなマシンビジョンアルゴリズム、暗くてシールドされた霜のない環境のための専用SiPh TopHatと組み合わせることで、システムは真のハンズフリー自律キャリブレーションと複数の温度での再キャリブレーションを可能にします。これにより、より正確な測定までの時間を短縮し、テストのコストを削減できます。

FormFactor専用に開発されたSiPh-ToolsおよびPhotonics Controller Interface（PCI）は、アライメント、データ収集、分析のための強力なソフトウェアツールを提供します。これには、表面およびエッジ結合アプリケーションの両方でファイバーおよびファイバーアレイを使用するために必要なすべてのアルゴリズムが含まれます。

FormFactorは、フォトニックデバイスでシリコンフォトニックプローブを数か月または数年ではなく数日で実行できるようにするために必要なすべてのツール、フィクスチャ、および機能を提供します。