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カスケード プローブシステム

Probe systems

当社は、所有コストを削減しながらプロセスのパフォーマンスを向上させる、ウェーハ上でのプロービングとボードテスト用のプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供しています。当社のプローブシステムには、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式が用意されています。

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    カスケード プローブ

    Probes

    当社は、ウェーハ、パッケージ、ボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナル、DCプローブファミリーは、幅広いプロービング環境の課題に対応するように設計されています。

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      プローブカード

      Probe Cards

      当社は、メモリ、RF、ファウンドリ、ロジックデバイス用の高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供しており、全体の製造コストの削減、歩留まりの向上、および「more-than-Moore」の高度なパッケージングテクノロジを可能にします。

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        計測学

        Metrology Systems

        FRT-FormFactor企業-は、開発生産や品質管理などのさまざまな分野向けの強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構造により、FRTツールは複数のアプリケーションに使用できます。

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          試験技術

          Test Expertise

          フォームファクターは、特性評価、モデリング、信頼性、設計のデバッグから、認定および製造テストまで、設計から製造までの一連の作業全体を通じてお客様をサポートします。

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            会社

            Probe card manufacturing company

            当社は、その実績ある製品ポートフォリオと経験豊富なエンジニアにより、お客様が今日の試験と測定の課題を解決するのを支援します。

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              セールス&サービス

              Probe sales

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                • 製品
                  • プローブシステム
                    • (モジュラーシステム)
                    • 150 mmプローブシステム
                      • MPS150
                      • 天才教育キット
                    • 200 mmプローブシステム
                      • Summit
                      • BlueRay
                      • PM8/EPS200
                      • すべてを見る…
                    • 300 mmプローブシステム
                      • CM300
                      • PM300
                      • すべてを見る…
                    • (専用システム)
                    • 自律アシスタント
                      • 自律DC
                      • 自律RF
                      • 自律SiPh
                    • ボードレベルシステム
                      • ボード試験システム
                    • 電力システム
                      • Tesla
                    • 高度な試験
                      • 真空/クライオ/圧力システム
                    • ソフトウェア
                      • Velox
                      • WinCal XE
                    • アクセサリ
                      • eVue顕微鏡
                      • ポジショナ
                      • チャック
                      • 防振テーブル
                      • ShieldEnclosure™
                        •  
                          •  
                      •  
                        •  
                        •  
                    • その他の製品/プログラム
                      • カスタム プローブシステム
                      • 認定中古装置
                      • 下取り/買い戻し
                      • 教育機関向け割引
                    •  
                    •  
                  • プローブ
                    • ACP
                      • ACPプローブ - 同軸
                      • ACPプローブ - クライオ/真空
                    • Infinity
                      • Infinityプローブ - 同軸
                      • InfinityXT™プローブ–同軸
                      • Infinity導波管プローブ
                    • |Z| プローブ
                      • |Z|プローブ - 同軸
                      • |Z| Probe® PCB
                      • |Z| Probe®パワー
                    • T-Wave
                      • T-Waveプローブ
                    • RFマルチコンタクト
                      • InfinityQuad
                      • ACP-Qプローブ
                      • Unityプローブ
                      • マルチ|Z|プローブ
                      • |Z| ProbeWedge
                      • QuadCard™
                    • DCパラメトリック
                      • DCP 100シリーズプローブ
                      • DCP-HTRシリーズプローブ
                    • DCマルチコンタクト
                      • DC-Qプローブ
                      • Eye-Passプローブ
                      • WPHプローブ
                    • DC電源
                      • 大電流プローブ
                      • 高電圧プローブ
                      • 超ハイパワー(UHP)
                    • 特殊
                      • インピーダンスマッチングと終端
                      • 光波プローブ
                    • シグナルインテグリティ
                      • FPCプローブ
                    • 校正ツール
                      • インピーダンス基準基板
                      • CSR校正基板
                      • マルチラインTRL校正基板
                      • WinCal XE
                    • 製品サポート
                      • プローブのサポート
                      • プローブ修理
                      • WinCalのサポート
                  • プローブカード
                    • DRAM
                      • PHシリーズ
                      • SmartMatrix
                    • フラッシュ
                      • TouchMatrix
                    • ファウンドリ&ロジック
                      • Altius
                      • Katana
                      • QiLin
                      • カンチレバー
                      • Apollo
                      • TrueScale
                      • Vx-MP
                    • パラメトリック
                      • Pyramidパラメトリック
                      • Takumi
                    • RF/MMW/レーダー
                      • Katana-RF
                      • Pyrana
                      • Pyramid Accel試験フィクスチャ
                      • Pyramid-MW
                      • Pyramid RF Pシリーズ
                    • 校正ツール
                      • Pyramid用校正基板
                  • 計測学
                    • 計測システム
                      • MicroProf®AP
                      • MicroProf®FS
                      • MicroProf®FE
                      • MicroProf®MHU
                      • MicroProf®TL
                      • MicroProf®300
                      • MicroProf®200
                      • MicroProf®100
                • 試験技術
                  • カスタマーコラボレーション
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                    • 開発から生産まで
                  • アプリケーション
                    • HBM (高帯域幅メモリー)
                    • シリコンフォトニクス
                    • 5Gデバイス
                    • DCパラメトリックテスト
                    • パワー半導体
                    • 極低温デバイス
                  • テクノロジ
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                  • 技術情報
                    • テクニカルレポート
                    • ケーススタディ
                  • MeasureOneソリューション
                    • MeasureOneプログラムの概要
                    • 1/fデバイス特性評価
                    • 回路特性評価
                    • 低温/磁気プロービング
                    • Sパラメータ& DCパラメトリック
                    • テラヘルツ プロービング
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                    • 分析プローブのサポート
                    • 分析プローブの修理
                    • Pyramidプローブカードのサポート
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                  • ポータルサインイン
                    • セールスポータル
                    • サービスポータル
                資産4
                  CM300xi-SiPh
                  CM300xi-SiPh
                  CM300xi-SiPh
                  製品 プローブシステム 300ミリメートルシステム CM300xi-SIPH

                  Cascade

                  CM300xi-SiPh

                  自律シリコンフォトニクス測定アシスタントを備えた300 mmセミオート/フルオート プローブシステム

                  CM300xi-SiPh
                  CM300xi-SiPh
                  CM300xi-SiPh
                  概要主な特徴動画ダウンロード

                  CM300xi-SiPhの概要

                  実績あるテクノロジと検証済みの測定値が違いを生む

                  CM300xi-SiPh 300 mmプローブステーションは、市場で最初に検証された統合測定ソリューションであり、設置後すぐに生産実績のある最適化された光学測定を可能にします。ユニークな自律SiPh測定アシスタント画期的な一連のキャリブレーションおよびアライメントツール、強力なSiPh-Toolsソフトウェアパッケージ、および数ヶ月から数年ではなく数日でフォトニックデバイスを測定できるようにするために必要なすべてのツールと備品を提供します。

                  用途: シリコンフォトニクス

                  CM300xi-SiPhの主な特徴

                  CM300xi-SiPh_keyfeature-integration

                  検証済みの統合

                  • 必要なツール、備品、校正技術がすべて含まれています
                  • 追加の開発が不要で、設置直後に測定を開始できます

                   

                  CM300xi-SiPh_keyfeature-performance

                  検証済みのパフォーマンス

                  • 指定済みのパフォーマンスパラメータ
                  • 出荷前と設置後の検証テスト

                   

                  CM300xi-SiPh_keyfeature-alignment

                  自動的な校正とアライメント

                  • 自動的な光学プローブの校正およびアライメントと、ウェーハとプローブの高さトレーニング
                  • 独自のピボットポイント校正
                  • 光学プロービングと自動電気プロービングの組み合わせのための、光学スキャン、勾配検索機能、サブダイ管理
                  CM300xi-SiPh_keyfeature-fiberarm

                  光ガイド技術を用いた再構成可能ファイバアーム

                  • エンジニアリング環境と量産環境に対する柔軟性
                  • シングルファイバとファイバアレイを構成可能
                  • 特別に設計されたZ変位キットが、ウェーハとファイバ間の距離を調整
                  CM300xi-SiPh_keyfeature-software

                  SiPh-Toolsソフトウェアパッケージ

                  • プローブステーションの視覚機能と光学式位置決めおよびテスト機器を統合することにより、マニュアル作業を自動化
                  • 、キャプチャログインし、収集したデータを解釈するためのツールの広い範囲

                  動画

                  自律シリコン・フォトニクス計測アシスタント

                  フォームファクタの自律シリコン・フォトニクス計測アシスタントは、シリコンフォトニクスのカップリングを可能にし、最適化します。 ウェハ表面のうちいくつ光に対するプローブとして単一の光ファイバとファイバアレイの使用は、フォームファクタがその連絡先インテリジェンス技術により管理して多くの課題を作成します。

                  imecのシリコンフォトニクス研究製造プログラム

                  お客様のIMECがどのようにCM300を使用してシリコンフォトニクスソリューションの開発を可能にするかをご覧ください

                  ダウンロード

                  CM300xi-SiPhデータシート
                  自律SiPh測定アシスタントパンフレット
                  自律SiPh測定の概要
                  カスケードプローブシステム パンフレット
                  プローブステーション アクセサリ カタログ
                  Contact Intelligence このプローブステーションはコンタクトインテリジェンス™をサポートしています。フォームファクターのコンタクトインテリジェンスは、スマートなハードウェア設計、革新的なソフトウェアアルゴリズム、長年の経験を組み合わせて、小さなパッドをプロービングする場合でさえも、幅広い用途にわたってメリットを提供するテクノロジを作り出します。コンタクトインテリジェンスは正確なデータを得るまでの時間を短縮し、場合によってはテスト時間を数ヶ月から数分に短縮します。コンタクトインテリジェンスの詳細

                  関連製品/アプリケーション

                  自律SiPh測定アシスタント

                  フォームファクターは、シリコンフォトニクス カップリングを可能にし最適化するための新しいアシスタントを紹介します。ウェーハ表面に出入りする光を結び付けるためのプローブとして単一の光ファイバおよびファイバアレイを使用することで多くの課題が生じますが、フォームファクターはそのコンタクトインテリジェンス テクノロジを通じてこれを管理します。自律SiPh測定アシスタントの詳細

                  シリコンフォトニクス

                  半導体業界は、シリコンフォトニクス(SiPh)という形で技術シフトの入り口にいます。SiPhにより、速度、電力効率、密度が飛躍的に向上する可能性があります。SiPh革命の最初の波は、銅線によって設けられた障壁を破る光相互接続によって、世界中のデータセンターを置き換えるところまで来ています。エンドユーザーのメリットには、HD動画や100時間分の音楽を1秒でダウンロードできることなどが挙げられます。テラビット/毎秒の帯域幅は、実用化段階に達しています。シリコンフォトニクスの詳細

                  CM300xiプローブシステム

                  コンタクトインテリジェンスを搭載したCM300xiシリーズ プローブシステムは、小型パッドの長時間の無人試験や複数の温度での試験など、非常に複雑な環境によって生じる測定上の課題を解決します。CM300xiプローブシステムの詳細

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