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プローブシステム

Cascade Probe Systems

当社は、所有コストを削減しながらプロセスのパフォーマンスを向上させるための、ウエハー上でのプロービングとボードテストのためのプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供しています。当社のプローブシステムには、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式が用意されています。

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    カスケード プローブ

    Wafer Test Probes

    当社は、ウェーハ、パッケージ、ボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナル、DCプローブファミリーは、幅広いプロービング環境の課題に対応するように設計されています。

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      プローブカード

      Probe Cards

      当社は、メモリ、RF、ファウンドリ、ロジックデバイス用の高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供しており、全体の製造コストの削減、歩留まりの向上、および「more-than-Moore」の高度なパッケージングテクノロジを可能にします。

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        計測

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT-FormFactor企業-は、開発生産や品質管理などのさまざまな分野向けの強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構造により、FRTツールは複数のアプリケーションに使用できます。

        FRTでさらに詳しく

          試験技術

          Test Expertise

          フォームファクターは、特性評価、モデリング、信頼性、設計のデバッグから、認定および製造テストまで、設計から製造までの一連の作業全体を通じてお客様をサポートします。

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            会社

            Probe Card Manufacturing Company

            当社は、その実績ある製品ポートフォリオと経験豊富なエンジニアにより、お客様が今日の試験と測定の課題を解決するのを支援します。

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              セールス&サービス

              Probe Sales & Service

              セールスとサポートのご質問がある場合は、お近くの販売代理店にお問い合わせください。

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                      • CM300
                      • PM300
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                    • (専用システム)
                    • 自律アシスタント
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                      • 自律SiPh
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                      • ボード試験システム
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                      • ACPプローブ - 同軸
                      • ACPプローブ - クライオ/真空
                    • Infinity
                      • Infinityプローブ - 同軸
                      • InfinityXT™プローブ–同軸
                      • Infinity導波管プローブ
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                      • |Z|プローブ - 同軸
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                      • DCP-HTRシリーズプローブ
                    • DCマルチコンタクト
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                    • 特殊
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                      • Katana
                      • QiLin
                      • カンチレバー
                      • Apollo
                      • TrueScale
                      • Vx-MP
                    • パラメトリック
                      • Pyramidパラメトリック
                      • Takumi
                    • RF/MMW/レーダー
                      • Pyrana
                      • ピラミッドRF
                      • Katana-RF
                      • Pyramid Accel試験フィクスチャ
                      • Pyramid-MW
                  • 計測
                    • 計測システム
                      • MicroProf®AP
                      • MicroProf®FS
                      • MicroProf®FE
                      • MicroProf®MHU
                      • MicroProf®TL
                      • MicroProf®300
                      • MicroProf®200
                      • MicroProf®100
                • 試験技術
                  • カスタマーコラボレーション
                    • 専門知識を共有
                    • 開発から生産まで
                  • アプリケーション
                    • 5Gデバイス
                    • 高度なパッケージング
                    • 極低温デバイス
                    • DCパラメトリックテスト
                    • 低周波ノイズ
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                    • パワー半導体
                    • シリコンフォトニクス
                    • VCSELとMicroLED
                  • テクノロジ
                    • コンタクトインテリジェンス
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                    • テクニカルレポート
                    • ケーススタディ
                    • テストインサイトプレゼンテーション
                  • MEASUREONEリーダーシップアライアンス
                    • MeasureOneプログラムの概要
                    • 1/fデバイス特性評価
                    • 回路特性評価
                    • 低温/磁気プロービング
                    • パワー半導体プロービング
                    • RFチューニングとロードプル
                    • Sパラメータ& DCパラメトリック
                    • シリコンフォトニクステスト
                    • テラヘルツ プロービング
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                  FPC Probe
                  製品 プローブ シグナルインテグリティ FPCプローブ

                  Cascade

                  FPCプローブ

                  モジュールおよび回路基板用の堅牢で広範囲なRFプロービング

                  概要ダウンロード

                  FPCプローブの概要

                  FPCプローブは、1本の信号線と1本または2本の低インダクタンス固定ピッチグラウンド接点を備えた、高周波50オーム同軸プローブです。プローブティップ構造は、卓越したインピーダンス制御のためにリソグラフィで定義されており、SMTボード、ハイブリッド、マルチチップモジュール(MCM)からの信号の送受信時に、最大の整合性を維持します。

                  特徴

                  • DC-40 GHzの帯域幅
                  • 10 psの立ち上がり時間
                  • 低挿入損失およびリターンロス
                  • 2ミルのティップ ツー ティップ コンプライアンス
                  • 高いプロービング角度とクリアランス

                  メリット

                  • 50オームの環境を維持し、超小型電子モジュールの正確な高周波測定が可能
                  • コンプライアントティップにより、非平面構造のプロービングが可能
                  • BeCuティップによりプロービング寿命が長く、プローブの損傷を軽減
                  • コンポーネント、モジュールの壁、その他の障害物の近くにある接点にアクセス
                  アプリケーション:

                  ダウンロード

                  Icon プローブ選択ガイド

                   

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