所有コストを削減しながらプロセスパフォーマンスを向上させる、オンウェーハプロービング用のプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供します。当社のプローブシステムは、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式で利用できます。
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ウェーハ、パッケージ、およびボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナルおよびDCプローブのファミリーは、幅広いプロービング環境の課題に対応するように設計されています。
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メモリ、RF、ファウンドリ、ロジックデバイス向けの高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供し、全体的な生産コストを削減し、歩留まりを向上させ、「ムーア以上」の高度なパッケージングテクノロジーを実現します。
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FRT Metrologyは、生産、開発、品質管理のための強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構築に基づいて、FRT計測ツールは幅広いウェーハおよび非ウェーハアプリケーションに使用できます。
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当社の高性能プローブカードの広範なポートフォリオは、製造コストの削減、歩留まりの向上、およびムーア以上のパッケージング技術の実現に役立ちます。
当社の高性能プローブカードの広範なポートフォリオは、製造コストの削減、歩留まりの向上、およびムーア以上のパッケージング技術の実現に役立ちます。
Pyrana RFプローブカードは、他の垂直MEMSウェーハテストカードと比較してシグナルインテグリティを向上させるために、メンブレンスペーストランスに垂直MEMプローブを組み込んだ柔軟なテストプラットフォームを提供します。 Pyranaを使用すると、テスターインターフェイスからダイまでの優れたシグナルインテグリティを維持しながら、プローブカードをオンサイトで修復できます。 Pyranaは、40 GHzを超える周波数をテストすることができ、大規模なマルチDUTテストアプリケーション向けに設計されており、テストのコストを抑えながら合計テスト時間を最小限に抑えます。
