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カスケードプローブシステム

Cascade Probe Systems

当社は、所有コストを削減しながらプロセスのパフォーマンスを向上させるための、ウエハー上でのプロービングとボードテストのためのプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供しています。当社のプローブシステムには、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式が用意されています。

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    カスケードプローブ

    Wafer Test Probes

    ウェーハ、パッケージ、およびボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナル、DCプローブファミリは、さまざまなプローブ環境の課題に対応できるように設計されています。

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      プローブカード

      Probe Cards

      メモリ、RF、ファウンドリ、およびロジックデバイス向けの高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供し、全体的な生産コストの削減、歩留まりの向上、「ムーア以上」の高度なパッケージングテクノロジの実現を支援します。

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        計測

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT-FormFactor企業-は、開発生産や品質管理などのさまざまな分野向けの強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構造により、FRTツールは複数のアプリケーションに使用できます。

        FRTでさらに詳しく

          テストの専門知識

          Test Expertise

          FormFactorは、特性評価、モデリング、信頼性、設計のデバッグから、認定および生産テストに至るまで、設計から生産までの一連の作業全体にわたって顧客をサポートします。

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            会社

            Probe Card Manufacturing Company

            お客様は、実績のある製品ポートフォリオと経験豊富なエンジニアに頼って、今日のテストおよび測定の課題に対応しています。

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              セールス&サービス

              Probe Sales & Service

              お住まいの地域の担当者をすばやく見つけて、セールスおよびサポートの質問に答えてください。

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                • 製品
                  • プローブシステム
                    • (モジュラーシステム)
                    • 150 MMプローブシステム
                      • MPS150
                      • 天才教育キット
                    • 200 MMプローブシステム
                      • サミット
                      • ブルーレイ
                      • PM8 / EPS200
                      • すべてを見る…
                    • 300 MMプローブシステム
                      • CM300
                      • PM300
                      • すべてを見る…
                    • (専用システム)
                    • 自律アシスタント
                      • 自律DC
                      • 自律RF
                      • 自律SiPh
                    • ボードレベルシステム
                      • ボードテストシステム
                    • 電力システム
                      • テスラ
                    • 高度なテスト
                      • 真空/低温/圧力システム
                    • ソフトウェア
                      • ベロックス
                      • WinCal XE
                    • アクセサリー
                      • eVue顕微鏡
                      • ポジショナー
                      • チャック
                      • 防振台
                      • ShieldEnclosure™
                        •  
                          •  
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                    • 追加の製品/プログラム
                      • カスタムプローブシステム
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                    • ACP
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                      • 無限プローブ-同軸
                      • InfinityXT™プローブ–同軸
                      • 無限導波管プローブ
                    • | Z |調査
                      • | Z |プローブ–同軸
                      • | Z | Probe®PCB
                      • | Z | Probe®パワー
                    • T-WAVE
                      • T波プローブ
                    • RFマルチコンタクト
                      • InfinityQuad
                      • ACP-Qプローブ
                      • ユニティプローブ
                      • マルチ-| Z |調査
                      • | Z |プローブウェッジ
                      • QuadCard™
                    • DCパラメータ
                      • DCP 100シリーズプローブ
                      • DCP-HTRシリーズプローブ
                    • DCマルチコンタクト
                      • DC-Qプローブ
                      • アイパスプローブ
                      • WPHプローブ
                    • DC電源
                      • 高電流プローブ
                      • 高電圧プローブ
                      • 超高出力(UHP)
                    • 専門
                      • 抵抗マッチングと終端
                      • 光学プローブ
                      • 極低温プローブ
                    • シグナルインテグリティ
                      • FPCプローブ
                    • 校正ツール
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                      • プローブ修理
                      • WinCalサポート
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                    • ファウンドリー&ロジック
                      • アルティウス
                      • 刀
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                      • カンチレバー
                      • アポロ
                      • TrueScale
                      • Vx-MP
                    • パラメトリック
                      • ピラミッドパラメトリック
                      • 匠
                    • RF / MMW /レーダー
                      • 刀-RF
                      • ピラナ
                      • Pyramid Accelテストフィクスチャ
                      • ピラミッドMW
                      • ピラミッドRF Pシリーズ
                    • 校正ツール
                      • ピラミッドキャリブレーション基板
                  • 計測
                    • 計測システム
                      • MicroProf®AP
                      • MicroProf®FS
                      • MicroProf®FE
                      • MicroProf®MHU
                      • MicroProf®TL
                      • MicroProf®300
                      • MicroProf®200
                      • MicroProf®100
                • テストの専門知識
                  • 顧客コラボレーション
                    • 専門知識の共有
                    • ラボからファブ
                  • 用途
                    • 5Gデバイス
                    • 高度なパッケージング
                    • 低温デバイス
                    • DCパラメトリックテスト
                    • 低周波ノイズ
                    • mm-波荷重-プル
                    • パワー半導体
                    • シリコンフォトニクス
                    • VCSELとMicroLED
                  • テクノロジーズ
                    • コンタクトインテリジェンス
                    • MEMS
                  • 刊行物
                    • テクニカルペーパー
                    • ケーススタディ
                    • インサイトプレゼンテーションのテスト
                  • MEASUREONEリーダーシップアライアンス
                    • MeasureOneプログラムの概要
                    • 1 / fデバイスの特性評価
                    • 回路の特性評価
                    • 低温/磁気探査
                    • パワー半導体プロービング
                    • RFチューニング
                    • SパラメータとDCパラメトリック
                    • シリコンフォトニクステスト
                    • テラヘルツプローブ
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                  • 私たちに関しては
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                資産4

                  DCパラメトリックテスト

                  DC-Parametric Test Probe Station

                  正確で再現性のあるIV / CV測定。正確なモデルとデータが重要な場合。

                  最良の決定は最高のデータでのみ行われます

                  DCパラメトリック測定は、ほぼすべてのデバイスタイプと半導体技術について、半導体製品の開発と生産の各段階で行われる決定に重要な貢献をします。それらは、高度な材料研究、プロセスの特性評価、デバイスの特性評価とモデリング、設計のデバッグ、プロセスの監視、および生産ウェーハのソートで重要な役割を果たします。

                  正確で再現可能なDCパラメトリック測定(IV、CV、パルス、および高出力)により、不確実性が低減されます。信頼できる結果は、デバイスの認定を加速し、より正確なモデルと設計ツールキットを作成します。また、これらにより、設計者はより競争力のある製品をより迅速に市場に投入できます。

                  まさにこの目的のために、分析プローブシステムに革命を起こしました。これは、ウエハー上での測定に電気的に手付かずの環境を提供するためです。テスト結果を損なう可能性のある環境要因を排除することにより、プローバは測定機器に対して事実上「見えない」ようになります。 1991年の最初のMicroChamber®プローブステーション以来、FormFactorのカスケードプローブシステム製品には常に同じ使命があり、顧客は最高のデータで最高の意思決定を行うことで成功することができます。

                  測定の完全性はあらゆる方向からの脅威に直面

                  無数の要因により、DC電気測定が破損する可能性があります。外部環境からの影響により、セルラーネットワーク、ラジオ/ TVタワー、および近くの電子機器からの電磁干渉や無線周波数干渉、および温度や振動などの物理的要因により、データに電気ノイズが現れることがあります。

                  測定システムの内部要因も結果に影響を与える可能性があります。たとえば、設計が不十分な信号経路からの電流漏れ、抵抗または熱電圧シフト、材料エネルギーの蓄積、電源、ステージモーター、熱システムなどのプローブシステムコンポーネントからの電気ノイズ、コンピューター。

                  適切に管理されていない場合、これらの要因により、データオフセットとサンプルセット全体の統計的広がりが大きくなり、電気的性能が大幅に低下する可能性があります。また、不良データは高価です。再テストの時間、追加のモデリングサイクル、製品の発売の遅れ、製品の過小評価/低パフォーマンス。

                  infographic-shielded-wafer-probe-systems
                  測定の完全性の革新と特許
                  1990年代 MicroChamber®およびTopHat
                  AttoGuard®およびPureLine™テクノロジー
                  低ノイズFemtoGuard™サーマルチャック
                  低ノイズ三軸ケーブル
                  2000年代 テスラ10kVフェムトガード
                  HV / HCケルビンチャックシステム
                  MicroVac™ウエハーコンタクト
                  熱雑音フィルタリング
                  2010年代 Contact Intelligence™テクノロジー
                  高い位置精度
                  高い熱安定性
                  低ノイズeVue IVデジタル顕微鏡
                  低騒音サーマルシステム
                  柔軟なシールドTopHatフィードスルー
                  光安定性シールド

                  事故によって高品質のデータが発生しない

                  FormFactorの経験豊富な設計チームは、電気測定のパフォーマンスバーを繰り返し引き上げています。大切なお客様とともに慎重に開発されたイノベーションの後のイノベーションにより、EMI / RFIおよび光シールド、電気ノイズフィルタリング、信号保護、シングルポイントアース、ノイズデカップリング、接触抵抗低減、静電容量、インダクタンス管理など。これらの技術はすべて、広い温度範囲で完全に自動化された動作で成功することが実証されており、課題は指数関数的に増大します。

                  電気測定の整合性に対するこの細心の注意は、FormFactor分析プローブシステムを際立たせ、データの整合性で顧客を成功に導きます。

                  FormFactorはデータの整合性で業界をリード

                  数千の顧客による何十年もの厳格なアプリケーションがこれらのツールを認定し、分析プローブシステムにおいてFormFactorを大きなマージンで世界市場シェアリーダーにしました。他の人は測定性能を主張するかもしれませんが、FormFactorはそれを証明できます。これらのテクノロジーを直接ご覧くださいFormFactorの世界規模のデモセンター。

                  FormFactorは、高品質のウェーハ上の電気測定値を収集するための完全なエコシステムを提供します。プローブステーション、チャック、プローブ、ケーブルを備えた完全なソリューションです。

                  DCP-HTR low-noise hightemperatureprobes

                  DCP-HTR低ノイズ高温プローブ

                  Low-noise FemtoGuard triaxial thermal chuck

                  低ノイズFemtoGuard 3軸サーマルチャック

                  Takumi DC-parametric small pitch probe card

                  Takumi DCパラメトリックスモールピッチプローブカード

                  今日利用可能–ソリューションのフルスイート

                  熟練したセールス、アプリケーション、および設計エンジニアが、最新の測定課題についてお客様と協力する準備ができています。手動の室温プローブステーションで単一のサンプルをテストする場合でも、完全自動化されたマルチ温度ツールを使用して大量のエンジニアリングプログラムを管理する場合でも、FormFactorは、今日のペースの速い厳しいビジネス環境に必要なデータの整合性を迅速に提供します。

                  FormFactorは、幅広い構成可能で拡張可能な高性能のラインアップを提供します分析プローブステーションそして分析プローブ以下を含む、精密電気測定の性能と価格の要件を満たすため

                  CM300xi - 300 mm Probe System

                  CM300xi-300 mmプローブシステム

                  SUMMIT200 Fully-automatic Shielded 200mm Probe System

                  SUMMIT200-200 mmプローブシステム

                  EPS150TRIAX

                  EPS150TRIAX- 150 mmプローブシステム

                  もっと詳しく知る

                  製品:
                  CM300xi-300 mmプローブシステム
                  SUMMIT200-200 mmプローブシステム
                  EPS150TRIAX- 150 mmプローブシステム
                  自律DC測定アシスタント

                  文書(PDF):
                  カスケードプローブシステムのパンフレット
                  CM300xiデータシート
                  SUMMIT200データシート
                  MPS150データシート

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                        • すべてを見る…
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                        • 極低温プローブ
                        • バック
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                        • Pyramid Accelテストフィクスチャ
                        • ピラミッドMW
                        • ピラミッドRF Pシリーズ
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                        • MicroProf®200
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