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カスケードプローブシステム

Cascade Probe Systems

所有コストを削減しながらプロセスパフォーマンスを向上させる、オンウェーハプロービングおよびボードテスト用のプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供します。当社のプローブシステムは、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式で利用できます。

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    カスケードプローブ

    Wafer Test Probes

    ウェーハ、パッケージ、およびボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナルおよびDCプローブのファミリーは、幅広いプロービング環境の課題に対応するように設計されています。

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      プローブカード

      Probe Cards

      メモリ、RF、ファウンドリ、ロジックデバイス向けの高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供し、全体的な生産コストを削減し、歩留まりを向上させ、「ムーア以上」の高度なパッケージング技術を実現します。

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        計測学

        Metrology Systems - FRT Tools

        FormFactorの会社であるFRTは、開発生産や品質管理などのさまざまな分野向けの強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構造により、FRTツールは複数のアプリケーションに使用できます。

        詳細@FRT

          テストの専門知識

          Test Expertise

          FormFactorは、特性評価、モデリング、信頼性、設計のバグ除去から、認定および製造テストに至るまで、設計から製造までの連続体全体を通じてお客様をサポートします。

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            会社

            Probe Card Manufacturing Company

            お客様は、実績のある製品ポートフォリオと経験豊富なエンジニアを利用して、今日のテストと測定の課題に対応しています。

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              セールス&サービス

              Probe Sales & Service

              お住まいの地域の担当者をすばやく見つけて、販売とサポートに関する質問に答えてください。

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                  テストの洞察

                  FormFactorのテストインサイトプレゼンテーションシリーズ

                  Test Insightsは、半導体ウェーハのテストと測定に関連するトピックに関する一連の短いプレゼンテーションです。 FormFactorのコンテンツエキスパートは、新たなアプリケーションと、そのパフォーマンスの特徴付けおよび検証に関連する課題について説明します。プレゼンテーションでは、エンジニアリングラボから生産工場まで、新しいデバイス、テクノロジー、材料、およびそれらの特定のテストと測定の要件を克服するためのソリューションについて説明します。

                  私たちのトピックの詳細については、お問い合わせ。

                  シリコンフォトニクスによるデータセンターのエネルギー危機の解決| Choon Beng Sia博士

                  大量のビジネスデータが毎日、企業のデータセンターに流れ込んでいます。同時に、消費者は通信、閲覧、購入、共有、検索を行っており、データセンターで膨大な量のデータを追跡し、驚異的なエネルギー需要を生み出しています。 FormFactorのDr Choon Beng Siaが、シリコンフォトニクス(SiPh)デバイスのアプリケーション、これらの新しいデバイスがデータセンターのエネルギー消費を削減する方法、正確で信頼性の高いウェーハレベルのフォトニクステストが必要な理由、およびFormFactorがSiPhデバイスのテストの課題に対処します。 (時間:13:25)

                  5G生産テストの考慮事項|ダニエルボック博士

                  5Gを市場に投入するには、最終製品が期待に応えることを保証する一連のサポートツールが必要です。コストとパフォーマンスを経済的に実行可能なレベルに保ちながら、チップテクノロジーと製造プロセスの大幅なパフォーマンスの向上が必要になります。このプレゼンテーションでは、FormFactorのDaniel Bock博士が、5Gデバイスに関連する仕様のいくつかと、それらがウェーハテスト要件で何を推進しているかについて説明します。 (時間9:28)

                  130 GHzまでの広帯域Sパラメータ測定|アンソニー・ロード

                  FormFactor RFマーケットディレクターのAnthony Lordが、特にミリ波で、広帯域にわたって非常に高い周波数を測定するという課題を検討します。彼は、高精度と再現性を備えたデバイスモデリングと回路特性評価の必要性、およびこれらの測定を温度(-40〜+175℃)で行う際の課題について説明します。 (時間10:00)

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