FormFactorのテストインサイトプレゼンテーションシリーズ
Test Insightsは、半導体ウェーハのテストと測定に関連するトピックに関する一連の短いプレゼンテーションです。 FormFactorのコンテンツエキスパートは、新たなアプリケーションと、そのパフォーマンスの特徴付けおよび検証に関連する課題について説明します。プレゼンテーションでは、エンジニアリングラボから生産工場まで、新しいデバイス、テクノロジー、材料、およびそれらの特定のテストと測定の要件を克服するためのソリューションについて説明します。
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シリコンフォトニクスによるデータセンターのエネルギー危機の解決| Choon Beng Sia博士
大量のビジネスデータが毎日、企業のデータセンターに流れ込んでいます。同時に、消費者は通信、閲覧、購入、共有、検索を行っており、データセンターで膨大な量のデータを追跡し、驚異的なエネルギー需要を生み出しています。 FormFactorのDr Choon Beng Siaが、シリコンフォトニクス（SiPh）デバイスのアプリケーション、これらの新しいデバイスがデータセンターのエネルギー消費を削減する方法、正確で信頼性の高いウェーハレベルのフォトニクステストが必要な理由、およびFormFactorがSiPhデバイスのテストの課題に対処します。 （時間：13:25）
5G生産テストの考慮事項|ダニエルボック博士
5Gを市場に投入するには、最終製品が期待に応えることを保証する一連のサポートツールが必要です。コストとパフォーマンスを経済的に実行可能なレベルに保ちながら、チップテクノロジーと製造プロセスの大幅なパフォーマンスの向上が必要になります。このプレゼンテーションでは、FormFactorのDaniel Bock博士が、5Gデバイスに関連する仕様のいくつかと、それらがウェーハテスト要件で何を推進しているかについて説明します。 （時間9:28）