新闻稿
新型探针卡采用系统方法，可提高生产率，降低每个芯片的测试成本
加利福尼亚州里弗莫尔 - 2006年6月6日 - FormFactor，Inc。（纳斯达克股票代码：FORM）今天正式推出其用于300毫米闪存生产的Harmony OneTouch探针卡。 Harmony OneTouch解决方案从头开始设计，以最低的总体测试成本解决与单触式300毫米闪存晶圆探测相关的独特挑战。新解决方案利用创新的Harmony架构，最大限度地延长了测试单元的正常运行时间，易用性和吞吐量。 FormFactor与领先的探针和测试仪供应商（包括Accretech，Advantest和其他公司）合作，将这项新技术推向市场。
“我们的客户正在寻找降低测试成本和提高产量的新方法，”FormFactor首席执行官Igor Khandros表示。 “在300 mm处，仅仅扩展现有的晶圆探针解决方案还不足以提供最具成本效益的测试。对于单触式测试，最小化测试单元操作中的非生产时间至关重要。 FormFactor成功地提高了整个电池的生产率，并开发了一种真正最大化测试电池输出的单触式解决方案。
减少探针卡必须用来测试晶圆上所有器件的触地次数对于提高测试吞吐量和降低总体测试成本至关重要。然而，为了实现这些好处，必须优化测试单元的利用率。在正常操作条件下，设置和维护可能会导致数小时甚至数天的生产力损失或停机。在一次触地得分时，这种停机时间占测试单元总时间的百分比更大，并且有可能削弱生产率。这相当于每小时几千个模具的测试吞吐量的损失。借助Harmony OneTouch产品，FormFactor可以解决整个系统方法中的测试单元利用问题 - 解决不仅影响探针卡而且还影响探针和测试仪的问题 - 使闪存制造商能够通过单触点300毫米探测实现最佳生产率。
FormFactor专有的Harmony OneTouch晶圆探针解决方案可通过两种方式实现快速设置和低维护300 mm测试。首先，为了优化设置，创新的桥接功能提供增强的平面度，以快速调整探针卡相对于晶圆的倾斜度。此外，该桥将热设置时间从几小时缩短到几分钟。这种快速设置还支持系统到系统的可移植性，在测试平台上提供更大的灵活性。 Harmony OneTouch卡还采用了新型MicroSpring®接触器，该接触器更加坚固，专为在高容量闪存环境中长寿命而设计。
“Harmony OneTouch在系统方法中扩展了FormFactor最先进的技术，使我们的NAND Flash客户能够实现高正常运行时间和高生产率，”Khandros说。
Harmony OneTouch晶圆探针解决方案现已上市。首批客户定于6月份发货。
前瞻性陈述
本新闻稿中不具有严格历史性质的陈述属于联邦证券法所界定的前瞻性陈述，包括有关我们产品性能的陈述。这些前瞻性陈述基于当前信息和期望，这些信息和期望本身可能会发生变化，并涉及许多风险和不确定性。由于各种因素，实际事件或结果可能与任何前瞻性陈述中的事件或结果大不相同，包括但不限于：公司利用其Harmony OneTouch晶圆测试解决方案优化300毫米晶圆测试的能力;该公司有能力与领先的探针和测试仪供应商合作;该公司能够为客户提供高正常运行时间和高生产率的晶圆探针解决方案，并帮助他们降低总体测试成本。有关可能导致实际事件或结果与任何前瞻性陈述产生重大差异的因素的其他信息包含在2006年4月1日截止的公司10-Q表格中，并提交给美国证券交易委员会（“证券交易委员会” “）和其他美国证券交易委员会的文件。美国证券交易委员会提交的文件副本可在http://investors.formfactor.com/edgar.cfm上找到。公司没有义务更新本新闻稿中的信息，修改任何前瞻性陈述或更新实际结果可能与前瞻性陈述中预期的大不相同的原因。