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Cascade 探针台系统

Probe systems

我们提供完整的优质性能分析探针台系列,用于晶圆上探测和电路板测试,有助于提高工艺性能,同时降低拥有成本。我们的探头系统配有一整套附件,例如显微镜,热控制系统,软件和行业领先的探头。

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    Cascade 探针

    Probes

    我们提供了 50 多款用于晶圆、封装和板级特性描述的分析型探针产品。我们的 RF、混合信号和 DC 探针系列专为应对众多探查环境的挑战而设计。

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      探针卡

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

      查看所有探针卡

        计量学

        Metrology Systems

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门(例如开发生产和质量控制)生产功能强大的表面计量工具。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        了解更多@ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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            公司

            Probe card manufacturing company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和我们的经验丰富的工程师组合,以帮助他们满足当今的测试和测量挑战。

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              销售服务

              Probe sales

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                  公司 新闻稿 2015年1月16日

                  新闻稿

                  FormFactor将于2月4日公布2014年第四季度财务业绩

                  2015年1月16日

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                  FormFactor,Inc。(纳斯达克股票代码:FORM)将于2015年2月4日星期三太平洋标准时间下午1:30报告其2014财年第四季度的财务业绩。欢迎公众在公司网站www.formfactor.com的投资者部分收听FormFactor电话会议的网络直播。电话会议结束后约两小时,电话会议将重播电话会议。电话重播将于2015年2月6日太平洋标准时间晚上9点开始提供,可拨打(855)859-2056(国内)或(404)537-3406(国际)并输入确认代码68677756此外,重播将在我们网站www.formfactor.com的投资者部分提供。

                  关于FormFactor:

                  FormFactor,Inc。(纳斯达克股票代码:FORM)帮助半导体制造商测试为消费者移动设备以及计算,汽车和其他应用提供动力的集成电路(IC)。该公司是世界领先的基本晶圆测试技术和专业技术供应商之一,拥有广泛的DRAM,闪存和SoC器件高性能探针卡产品组合。客户使用FormFactor的产品和服务来降低总体生产成本,提高产量并实现复杂的下一代IC。该公司总部位于加利福尼亚州利弗莫尔,通过欧洲,亚洲和北美的设施网络为客户提供服务。有关更多信息,请访问公司网站www.formfactor.com。

                  FormFactor,MicroProbe以及FormFactor和MicroProbe徽标是FormFactor,Inc。的注册或未注册商标。此处提及的所有其他产品,商标,公司或服务名称均为其各自所有者的财产。

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                        • 防震台
                        • ShieldEnclosure™
                          •  
                            •  
                            • 后
                          • 后
                        •  
                          •  
                          •  
                          • 后
                        • 后
                      • 附加产品/方案
                        • 定制探针台系统
                        • 认证二手设备
                        • 以旧换新/回购
                        • 教育储蓄
                        • 后
                      •  
                      •  
                      • 后
                    • 探针
                      • ACP
                        • ACP探针 - 同轴
                        • ACP探针 - 冷冻/真空
                        • 后
                      • INFINITY
                        • Infinity探针 - 同轴
                        • InfinityXT™探头–同轴
                        • Infinity波导探针
                        • 后
                      • | Z | 探针
                        • | Z | 探针 - 同轴
                        • | Z | Probe®PCB
                        • |Z| Probe® Power
                        • 后
                      • T-WAVE
                        • T-Wave 探针
                        • 后
                      • RF多触点
                        • InfinityQuad
                        • ACP-Q探针
                        • Unity探针
                        • Multi-|Z| 探针
                        • | Z | ProbeWedge
                        • QuadCard™
                        • 后
                      • DC参数
                        • DCP 100系列探针
                        • DCP-HTR系列探针
                        • 后
                      • DC多触点
                        • DC-Q探针
                        • Eye-Pass 探针
                        • WPH探针
                        • 后
                      • 直流电源
                        • 高电流探针
                        • 高压探针
                        • 超高功率(UHP)
                        • 后
                      • 专业
                        • 阻性匹配和终端
                        • 光波探针
                        • 后
                      • 信号完整性
                        • FPC探针
                        • 后
                      • 较准工具
                        • 阻抗标准衬底
                        • CSR 校准 (Cal) 衬底
                        • 多线 TRL 校准 (Cal) 衬底
                        • WinCal XE
                        • 后
                      • 产品支持
                        • 探针支持
                        • 探头维修
                        • WinCal支持
                        • 后
                      • 后
                    • 探针卡
                      • DRAM
                        • PH系列
                        • SmartMatrix
                        • 后
                      • FLASH
                        • TouchMatrix
                        • 后
                      • FOUNDRY & LOGIC
                        • ALTIUS
                        • Katana
                        • QiLin
                        • Cantilever
                        • Apollo
                        • TrueScale
                        • VX-MP
                        • 后
                      • PARAMETRIC
                        • Pyramid Parametric
                        • Takumi
                        • 后
                      • RF / MMW / RADAR
                        • Katana-RF
                        • Pyrana
                        • Pyramid Accel 测试夹具
                        • Pyramid-MW
                        • Pyramid RF P系列
                        • 后
                      • 较准工具
                        • Pyramid校准片
                        • 后
                      • 后
                    • 计量学
                      • 计量系统
                        • MicroProf®AP
                        • MicroProf®FS
                        • MicroProf®FE
                        • MicroProf®MHU
                        • MicroProf®TL
                        • MicroProf®300
                        • MicroProf®200
                        • MicroProf®100
                        • 后
                      • 后
                    • 后
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                    • 客户协作
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                      • 从实验室到晶圆厂
                      • 后
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                      • 硅光子学
                      • 5G设备
                      • 直流参数测试
                      • 功率半导体
                      • 低温设备
                      • 后
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                      • 后
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                      • 电路表征
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                      • 后
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