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Cascade 探针台系统

Probe systems

我们提供完整的优质性能分析探针台系列,用于晶圆上探测和电路板测试,有助于提高工艺性能,同时降低拥有成本。我们的探头系统配有一整套附件,例如显微镜,热控制系统,软件和行业领先的探头。

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    Cascade 探针

    Probes

    我们提供了 50 多款用于晶圆、封装和板级特性描述的分析型探针产品。我们的 RF、混合信号和 DC 探针系列专为应对众多探查环境的挑战而设计。

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      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        计量学

        Metrology Systems

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门(例如开发生产和质量控制)生产功能强大的表面计量工具。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        了解更多@ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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            公司

            Probe card manufacturing company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和我们的经验丰富的工程师组合,以帮助他们满足当今的测试和测量挑战。

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              销售服务

              Probe sales

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                  公司 新闻稿 2007年7月9日

                  新闻稿

                  FormFactor专注于使用Elpida降低测试成本

                  2007年7月9日

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                  2007年7月9日,加利福尼亚州LIVERMORE - FormFactor,Inc。(纳斯达克股票代码:FORM)今天宣布,全球领先的DRAM制造商之一Elpida Memory已同意与FormFactor建立战略合作关系,以帮助Elpida每年降低成本测试。 Elpida将与FormFactor合作创建一个定制的测试解决方案路线图,以解决一系列降低测试成本和提高投资回报率(ROI)的机会。

                  该协作采用了一种新的测试方法 - 一种超越探针卡作为测试过程中孤立元素的方法,而是采用整体视图来检查整个测试功能及其在制造过程中的位置。从芯片设计到制造,从晶圆测试到最终测试,Elpida可以利用FormFactor的先进探测功能来优化整个测试流程,提高产量,优化测试资源,加速产量学习并降低产品成本。

                  随着半导体制造变得越来越具有挑战性,测试在确保高级IC的最高产量和质量方面发挥着越来越重要的作用。

                  FormFactor首席执行官Igor Khandros表示:“我们的客户面临着降低测试成本和产品成本,缩短产品上市时间以及应对日益复杂的高级产品测试要求的压力。” “晶圆测试供应商目前使用'现货市场'参与的方法并不是为了帮助他们的客户有效地应对这些挑战。 FormFactor正在通过协作方法重新定义供应商 - 客户关系,旨在不断降低其测试成本。我们很高兴有机会在这个新框架下与Elpida合作,帮助他们更大程度地降低测试成本和长期业务目标。“

                  前瞻性陈述

                  本新闻稿中不具有严格历史性质的陈述属于联邦证券法所界定的前瞻性陈述,包括有关我们产品性能的陈述。这些前瞻性陈述基于当前信息和期望,这些信息和期望本身可能会发生变化,并涉及许多风险和不确定性。由于各种因素,实际事件或结果可能与任何前瞻性陈述中的事件或结果存在重大差异,包括但不限于公司的能力:与客户合作以帮助优化其整个测试流程,提高吞吐量,优化测试资源,无论客户采用公司的协作方法进行测试,旨在持续降低客户的测试成本,以及公司为客户开发和提供创新技术的能力,都可以加速产量学习并降低产品成本。有关可能导致实际事件或结果与任何前瞻性陈述产生重大差异的因素的其他信息,包含在公司截至2006年12月30日的财政年度10-K表格以及公司随后的10-Q和8- K档案,该公司向美国证券交易委员会(“SEC”)提交。公司的SEC文件副本可在http://investors.formfactor.com/edgar.cfm上找到。公司没有义务更新本新闻稿中的信息,修改任何前瞻性陈述或更新实际结果可能与任何前瞻性陈述中的预期产生重大差异的原因。

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                        • 真空/冷冻/压力系统
                        • 后
                      • 软件
                        • Velox
                        • WinCal XE
                        • 后
                      • 附件
                        • eVue显微镜
                        • 探针座
                        • 载物台
                        • 防震台
                        • ShieldEnclosure™
                          •  
                            •  
                            • 后
                          • 后
                        •  
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                          • 后
                        • 后
                      • 附加产品/方案
                        • 定制探针台系统
                        • 认证二手设备
                        • 以旧换新/回购
                        • 教育储蓄
                        • 后
                      •  
                      •  
                      • 后
                    • 探针
                      • ACP
                        • ACP探针 - 同轴
                        • ACP探针 - 冷冻/真空
                        • 后
                      • INFINITY
                        • Infinity探针 - 同轴
                        • InfinityXT™探头–同轴
                        • Infinity波导探针
                        • 后
                      • | Z | 探针
                        • | Z | 探针 - 同轴
                        • | Z | Probe®PCB
                        • |Z| Probe® Power
                        • 后
                      • T-WAVE
                        • T-Wave 探针
                        • 后
                      • RF多触点
                        • InfinityQuad
                        • ACP-Q探针
                        • Unity探针
                        • Multi-|Z| 探针
                        • | Z | ProbeWedge
                        • QuadCard™
                        • 后
                      • DC参数
                        • DCP 100系列探针
                        • DCP-HTR系列探针
                        • 后
                      • DC多触点
                        • DC-Q探针
                        • Eye-Pass 探针
                        • WPH探针
                        • 后
                      • 直流电源
                        • 高电流探针
                        • 高压探针
                        • 超高功率(UHP)
                        • 后
                      • 专业
                        • 阻性匹配和终端
                        • 光波探针
                        • 后
                      • 信号完整性
                        • FPC探针
                        • 后
                      • 较准工具
                        • 阻抗标准衬底
                        • CSR 校准 (Cal) 衬底
                        • 多线 TRL 校准 (Cal) 衬底
                        • WinCal XE
                        • 后
                      • 产品支持
                        • 探针支持
                        • 探头维修
                        • WinCal支持
                        • 后
                      • 后
                    • 探针卡
                      • DRAM
                        • PH系列
                        • SmartMatrix
                        • 后
                      • FLASH
                        • TouchMatrix
                        • 后
                      • FOUNDRY & LOGIC
                        • ALTIUS
                        • Katana
                        • QiLin
                        • Cantilever
                        • Apollo
                        • TrueScale
                        • VX-MP
                        • 后
                      • PARAMETRIC
                        • Pyramid Parametric
                        • Takumi
                        • 后
                      • RF / MMW / RADAR
                        • Katana-RF
                        • Pyrana
                        • Pyramid Accel 测试夹具
                        • Pyramid-MW
                        • Pyramid RF P系列
                        • 后
                      • 较准工具
                        • Pyramid校准片
                        • 后
                      • 后
                    • 计量学
                      • 计量系统
                        • MicroProf®AP
                        • MicroProf®FS
                        • MicroProf®FE
                        • MicroProf®MHU
                        • MicroProf®TL
                        • MicroProf®300
                        • MicroProf®200
                        • MicroProf®100
                        • 后
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