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Cascade 探针台系统

Probe systems

我们提供完整的优质性能分析探针台系列,用于晶圆上探测和电路板测试,有助于提高工艺性能,同时降低拥有成本。我们的探头系统配有一整套附件,例如显微镜,热控制系统,软件和行业领先的探头。

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    Cascade 探针

    Probes

    我们提供了 50 多款用于晶圆、封装和板级特性描述的分析型探针产品。我们的 RF、混合信号和 DC 探针系列专为应对众多探查环境的挑战而设计。

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      探针卡

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        专业测试

        Test Expertise

        FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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          公司

          Probe card manufacturing company

          我们的客户依靠我们成熟的产品和我们的经验丰富的工程师组合,以帮助他们满足当今的测试和测量挑战。

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            销售服务

            Probe sales

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                产品 探针台系统 附件 eVue显微镜

                Cascade

                eVue显微镜

                数字成像系统

                概观主要特征视频下载

                eVue显微镜概览

                体验数字成像的未来

                eVue IV 数字成像系统集非凡的光学性能与更高的生产率于一身。

                它的革命性多透镜设计在光学分辨率、数字变焦和实时运动视频之间提供了理想的平衡。该系统能以前所未有的速度和智能水平对器件进行导航、观察和测量,并支持 FormFactor 独特的 Contact Intelligence™。

                新型高速聚焦系统可提高工作速度,从而在极短的时间里提供高度准确的测量数据。先进的智能型透镜支架能检测无意识的机械接触并改善自动化安全性。

                eVue IV 数字显微镜为您的 Cascade 探针台提供了完美的补充。

                eVue 显微镜主要特点

                多透镜设计

                • 简便快捷的探针针尖导航
                • 最大限度扩大了视野
                • 高放大倍数

                较长的焦距

                • Z 轴驱动器能够在与载物台相同的范围内工作
                • 在 DUT 处于聚焦状态的情况下可实现较高的分离间隙
                • 使独特的 ScopeFollowMode 更加强大
                • 实现了更快和更准确的探针针尖放置
                • 相应特征的无阴影视图

                智能物镜支架

                • 自动地配置和优化性能
                • 简易的透镜更换
                • eVue 自动识别目标参数并将它们传递至 Velox™ 探针台控制软件

                延长使用寿命

                • 每天 24 小时、每周 7 天的不间断运行
                • 增加了平均故障间隔时间 (MTBF)
                • 无需内部维护

                智能碰撞检测系统

                • 保护测量设置
                • 防止透镜和探针之间的无意识机械接触
                • 增强了自动化安全性

                视频

                eVue IV显微镜

                eVue IV 数字成像系统集非凡的光学性能与更高的生产率于一身。

                下载

                eVue IV数据表
                探针台附件产品
                Contact Intelligence 该探针台支持Contact Intelligence™,这是一种创新技术,能够检测环境变化并作出反应,以优化探针接触准确度,从而实现自主型半导体测试。FormFactor 的 Contact Intelligence 结合了智能硬件设计、创新软件算法和多年的经验,旨在创立一种可在广泛应用中提供优势的技术,即使在探查小焊盘时也不例外。Contact Intelligence 可加快获得准确测量数据的时间,在某些场合中能将测试时间从数月锐减到短短几分钟。详细了解Contact Intelligence

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                    • 附加产品/方案
                      • 定制探针台系统
                      • 认证二手设备
                      • 以旧换新/回购
                      • 教育储蓄
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                      • ACP探针 - 冷冻/真空
                      • 后
                    • INFINITY
                      • Infinity探针 - 同轴
                      • InfinityXT™探头–同轴
                      • Infinity波导探针
                      • 后
                    • | Z | 探针
                      • | Z | 探针 - 同轴
                      • | Z | Probe®PCB
                      • |Z| Probe® Power
                      • 后
                    • T-WAVE
                      • T-Wave 探针
                      • 后
                    • RF多触点
                      • InfinityQuad
                      • ACP-Q探针
                      • Unity探针
                      • Multi-|Z| 探针
                      • | Z | ProbeWedge
                      • QuadCard™
                      • 后
                    • DC参数
                      • DCP 100系列探针
                      • DCP-HTR系列探针
                      • 后
                    • DC多触点
                      • DC-Q探针
                      • Eye-Pass 探针
                      • WPH探针
                      • 后
                    • 直流电源
                      • 高电流探针
                      • 高压探针
                      • 超高功率(UHP)
                      • 后
                    • 专业
                      • 阻性匹配和终端
                      • 光波探针
                      • 后
                    • 信号完整性
                      • FPC探针
                      • 后
                    • 较准工具
                      • 阻抗标准衬底
                      • CSR 校准 (Cal) 衬底
                      • 多线 TRL 校准 (Cal) 衬底
                      • WinCal XE
                      • 后
                    • 产品支持
                      • 探针支持
                      • 探头维修
                      • WinCal支持
                      • 后
                    • 后
                  • 探针卡
                    • DRAM
                      • PH系列
                      • SmartMatrix
                      • 后
                    • FLASH
                      • TouchMatrix
                      • 后
                    • FOUNDRY & LOGIC
                      • ALTIUS
                      • Katana
                      • QiLin
                      • Cantilever
                      • Apollo
                      • TrueScale
                      • VX-MP
                      • 后
                    • PARAMETRIC
                      • Pyramid Parametric
                      • Takumi
                      • 后
                    • RF / MMW / RADAR
                      • Katana-RF
                      • Pyrana
                      • Pyramid Accel 测试夹具
                      • Pyramid-MW
                      • Pyramid RF P系列
                      • 后
                    • 较准工具
                      • Pyramid校准片
                      • 后
                    • 后
                  • 后
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