我们提供完整的优质性能分析探针台系列,用于晶圆上探测和电路板测试,有助于提高工艺性能,同时降低拥有成本。我们的探头系统配有一整套附件,例如显微镜,热控制系统,软件和行业领先的探头。
我们提供了 50 多款用于晶圆、封装和板级特性描述的分析型探针产品。我们的 RF、混合信号和 DC 探针系列专为应对众多探查环境的挑战而设计。
我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。
FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。
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我们的客户依靠我们成熟的产品和我们的经验丰富的工程师组合,以帮助他们满足当今的测试和测量挑战。
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从简单到高度灵敏的台面
全系列防震台
使用越来越小的基准标度意味着:任何振动(无论多小),即使来自设备本身,也将严重地影响探针台的性能。轻微的振动将引起探针的跳跃,因而错过其触点,显微镜图像将会模糊不清。我们的隔振台系列包括用于一般工作条件的简单台面,以及专为非常灵敏的测量(比如,在亚微米范围)而特别设计的台面。
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