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Cascade 探针台系统

Probe systems

我们提供完整的优质性能分析探针台系列,用于晶圆上探测和电路板测试,有助于提高工艺性能,同时降低拥有成本。我们的探头系统配有一整套附件,例如显微镜,热控制系统,软件和行业领先的探头。

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    Cascade 探针

    Probes

    我们提供了 50 多款用于晶圆、封装和板级特性描述的分析型探针产品。我们的 RF、混合信号和 DC 探针系列专为应对众多探查环境的挑战而设计。

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      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        Test Expertise

        FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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          公司

          Probe card manufacturing company

          我们的客户依靠我们成熟的产品和我们的经验丰富的工程师组合,以帮助他们满足当今的测试和测量挑战。

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                Autonomous RF Measurement Assistant with Keysight Network Analyzer on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                Autonomous RF Measurement Assistant with Keysight Network Analyzer on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                Autonomous RF Measurement Assistant with Virginia Diodes Extender on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                Autonomous RF Measurement Assistant with Virginia Diodes Extender on 300 mm Probe Station CM300xi
                WinCal XE on-wafer RF measurement calibration software is fully integrated in Velox probe station control software
                产品 探针台系统 Autonomous Assistants Autonomous RF

                Cascade

                自主型RF

                具有接触智能功能的自主RF晶圆探测

                Autonomous RF Measurement Assistant with Keysight Network Analyzer on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                Autonomous RF Measurement Assistant with Keysight Network Analyzer on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                Autonomous RF Measurement Assistant with Virginia Diodes Extender on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                Autonomous RF Measurement Assistant with Virginia Diodes Extender on 300 mm Probe Station CM300xi
                WinCal XE on-wafer RF measurement calibration software is fully integrated in Velox probe station control software
                概观主要特征下载

                Autonomous RF 概述

                在200mm和300mm探针台上执行真正的自主RF和毫米波测量和校准

                FormFactor 推出了一款用于在多种温度条件下进行 RF 器件自主型校准和测量的新助手。面向 5G、自动驾驶和下一代 Wi-Fi 等应用的新型 RF 器件必需拥有用于其 IC 设计的最准确器件模型。每当系统漂移超过可用限值时,RF 器件建模测试结构的正常测试都需要工程师花费大量的时间来执行再校准。当变更温度时,探针的重新定位也需要使用者的干预。

                凭借 FormFactor 的Contact Intelligence技术,操作员可以在整个班次中(整夜,甚至整个周末)开始测试并让探针台保持测量状态,而无需用户干预。 Contact Intelligence在多个温度下提供真正的免提和自主RF校准和测量。可编程的定位器并且,探针识别算法与我们的WinCal XE 校准软件如果系统性能超出可用极限,则自动重新校准。探针经过动态校正,可以实时精确地放置焊盘,以补偿温度变化时探头或设备的任何热膨胀。这样就可以在更短的时间内测试更多的设备,并且在RF测量性能方面具有更高的一致性,从而导致更准确的设计模型和更快的上市时间。

                自主RF测量助手可用于以下200 mm和300 mm探针台:CM300xi,SUMMIT200,峰会12000和Elite 300。

                Autonomous RF 主要特点

                Autonomous RF Measurement Assistant with Keysight Network Analyzer on 200 mm Probe Station SUMMIT200

                Contact Intelligence技术

                • 简单易用–经验不足的操作员只需按一下按钮即可执行高达330 GHz的RF校准。这减少了有经验的用户在每个系统上全职工作的需求。
                • 缩短了浸泡时间- 如果探针偏离了与焊盘对准的状态,则系统将自动地把它们重新对准。这可减少测试时间并增加吞吐量。
                • 无人值守式的使用 - 可在夜间或周末将测量作业置于运行状态,在不同的温度下测试晶圆上的所有器件,并不需要操作人员的干预。
                • 校准监视和再校准 - 系统将
                  持续地监视校准漂移,并在漂移超过某个预先确定的限值时自动地对系统实施再校准。

                下载

                自主射频测量助手手册
                自主射频校准和测量概况
                使用级联探针台进行高级毫米波和太赫兹测量
                Cascade探针台系统手册

                相关产品

                 

                SUMMIT200先进的200毫米探针台系列支持接触智能-一种创新技术,可感应环境变化并做出反应以优化探针接触精度,从而实现自主半导体测试。了解有关SUMMIT200探针台的更多信息
                带有接触智能功能的CM300xi先进的300 mm探针台系列可应对极端复杂环境带来的测量挑战,例如随时间推移以及在多个温度下对小焊盘进行无人值守的测试。了解有关CM300xi探针台的更多信息

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                      • | Z | 探针 - 同轴
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                      • InfinityQuad
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                      • 后
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                      • DCP-HTR系列探针
                      • 后
                    • DC多触点
                      • DC-Q探针
                      • Eye-Pass 探针
                      • WPH探针
                      • 后
                    • 直流电源
                      • 高电流探针
                      • 高压探针
                      • 超高功率(UHP)
                      • 后
                    • 专业
                      • 阻性匹配和终端
                      • 光波探针
                      • 后
                    • 信号完整性
                      • FPC探针
                      • 后
                    • 较准工具
                      • 阻抗标准衬底
                      • CSR 校准 (Cal) 衬底
                      • 多线 TRL 校准 (Cal) 衬底
                      • WinCal XE
                      • 后
                    • 产品支持
                      • 探针支持
                      • 探头维修
                      • WinCal支持
                      • 后
                    • 后
                  • 探针卡
                    • DRAM
                      • PH系列
                      • SmartMatrix
                      • 后
                    • FLASH
                      • TouchMatrix
                      • 后
                    • FOUNDRY & LOGIC
                      • ALTIUS
                      • Katana
                      • QiLin
                      • Cantilever
                      • Apollo
                      • TrueScale
                      • VX-MP
                      • 后
                    • PARAMETRIC
                      • Pyramid Parametric
                      • Takumi
                      • 后
                    • RF / MMW / RADAR
                      • Katana-RF
                      • Pyrana
                      • Pyramid Accel 测试夹具
                      • Pyramid-MW
                      • Pyramid RF P系列
                      • 后
                    • 较准工具
                      • Pyramid校准片
                      • 后
                    • 后
                  • 后
                • 专业测试
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