探针台系统

300毫米系统

Cascade 300毫米探针台为手动和自动晶圆上测试树立了标准，可提供满足各种高级，复杂测试要求所需的精度和多功能性。

CM300xi - 300 mm semi-automated shielded probe system

CM300xi

300 mm 半自动化探针台系统

CM300xi - 300 mm Automated Probe Station with Loader

具有载片器的CM300xi

300毫米全自动探针台系统

Integrated Silicon Photonics Wafer Probing Solution on 300 mm Probe Station CM300

CM300xi-SIPH

具有自主型硅光子器件测量助手的 300 mm 半自动化 / 全自动化探针台系统

PM300 Probe Station

PM300

300毫米手动探针台系统

功率系统

功率半导体器件的广泛使用产生了对功率器件快速高效地进行特性分析的紧迫需求。Cascade 提供了晶圆上功率器件特性分析系统，旨在缩短新型功率器件的上市时间并跟上生产进度的要求。

TESLA300 - semi-automated

T300 - 半自动

300毫米半自动晶圆上功率器件表征系统

定制探针台系统

针对各种挑战性的应用定制的解决方案

Probe systems - custom magnetic

定制探针台系统

面向诸多具挑战性应用的全面技术和应用诀窍