探针台系统

300毫米系统

Cascade 300毫米探针台为手动和自动晶圆上测试树立了标准，可提供满足各种高级，复杂测试要求所需的精度和多功能性。

CM300xi-ULN Semi-automated 300 mm Probe Station for Flicker Noise (1/f), Random Telegraph Noise (RTN), and Phase Noise Measurements of Ultrasensitive Devices

CM300xi-ULN

300 mm半自动/全自动探头系统，用于超低噪声测量

CM300xi Probe Station

CM300xi

300 mm半/全自动测头系统

300 mm Probe Station CM300

CM300xi-SIPH

具有自主型硅光子器件测量助手的 300 mm 半自动化 / 全自动化探针台系统

300 mm Analytical Probe Station

PM300

300毫米手动探针台系统

综合测量系统

FormFactor的IMS产品提供强大的交钥匙功能，高枕无忧，并为当今重要且具有挑战性的测试应用提供了更快的收集高质量晶圆上测量数据的途径。集成测量系统将FormFactor合作伙伴的仪器和其他产品（包括是德科技）与FormFactor的探针系统，探针以及为晶圆上的设备和集成电路提供关键数据所需的所有其他东西结合在一起。

Integrated Measurement System - Keysight Silicon Photonics

IMS-K-SiPh

带有Keysight Photonics Application Suite硬件和软件的集成系统

Integrated Measurement System - Keysight - Power

IMS-K-电源

具有Keysight PDA的集成系统，用于功率半导体器件表征

Integrated Measurement System - Keysight - DC

IMS-K-DC

带有Keysight SPA的集成系统，用于直流参数测量

Integrated Measurement System - Keysight - Low Frequency Noise

IMS-K-LFN

带有Keysight A-LFNA的集成系统，用于1 / f闪烁噪声，RTN，相位噪声，器件表征和其他低频噪声测量

功率系统

的广泛使用功率半导体迫切需要快速有效地表征功率器件。 FormFactor提供了晶圆上功率器件特性分析系统，以缩短新功率器件的上市时间并保持产量。

TESLA300 Semi-automated High Power Probe System

T300 - 半自动

300毫米半自动晶圆上功率器件表征系统

定制探针台系统

针对各种挑战性的应用定制的解决方案

Probe systems - custom magnetic

定制探针台系统

面向诸多具挑战性应用的全面技术和应用诀窍