300毫米系统
Cascade 300毫米探针台为手动和自动晶圆上测试树立了标准，可提供满足各种高级，复杂测试要求所需的精度和多功能性。
功率系统
功率半导体器件的广泛使用产生了对功率器件快速高效地进行特性分析的紧迫需求。Cascade 提供了晶圆上功率器件特性分析系统，旨在缩短新型功率器件的上市时间并跟上生产进度的要求。
定制探针台系统
针对各种挑战性的应用定制的解决方案
Cascade 探针台系统
我们提供完整的优质性能分析探针台系列，用于晶圆上探测和电路板测试，有助于提高工艺性能，同时降低拥有成本。我们的探头系统配有一整套附件，例如显微镜，热控制系统，软件和行业领先的探头。
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