300毫米系统
Cascade 300 mm 探测解决方案设定了晶圆上测试的标准，并提供了应对众多高级、复杂的测试要求所需的精度和多功能性。
可靠性测试系统
功率系统
功率半导体器件的广泛使用产生了对功率器件快速高效地进行特性分析的紧迫需求。Cascade 提供了晶圆上功率器件特性分析系统，旨在缩短新型功率器件的上市时间并跟上生产进度的要求。
定制探针台系统
针对各种挑战性的应用定制的解决方案
Cascade 探针台系统
我们提供的优质性能分析探头解决方案的完整产品线的晶圆探测，板测试和封装测试，有助于提高工艺性能，同时降低总体拥有成本。 我们的探测系统可提供一整套的配件，如显微镜，热控系统，软件和业界领先的探针。
查看所有探测台系统
