探针台系统

300毫米系统

Cascade 300毫米探针台为手动和自动晶圆上测试树立了标准，可提供满足各种高级，复杂测试要求所需的精度和多功能性。

CM300xi-ULN Semi-automated 300 mm Probe Station for Flicker Noise (1/f), Random Telegraph Noise (RTN), and Phase Noise Measurements of Ultrasensitive Devices

CM300xi-ULN

300 mm半自动/全自动探头系统，用于超低噪声测量

CM300xi Probe Station

CM300xi

300 mm半/全自动测头系统

300 mm Probe Station CM300

CM300xi-SIPH

具有自主型硅光子器件测量助手的 300 mm 半自动化 / 全自动化探针台系统

300 mm Analytical Probe Station

PM300

300毫米手动探针台系统

功率系统

的广泛使用功率半导体迫切需要快速有效地表征功率器件。 FormFactor提供了晶圆上功率器件特性分析系统，以缩短新功率器件的上市时间并保持产量。

TESLA300 Semi-automated High Power Probe System

T300 - 半自动

300毫米半自动晶圆上功率器件表征系统

定制探针台系统

针对各种挑战性的应用定制的解决方案

Probe systems - custom magnetic

定制探针台系统

面向诸多具挑战性应用的全面技术和应用诀窍