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Cascade 探针台系统

Probe systems

我们提供完整的优质性能分析探针台系列,用于晶圆上探测和电路板测试,有助于提高工艺性能,同时降低拥有成本。我们的探头系统配有一整套附件,例如显微镜,热控制系统,软件和行业领先的探头。

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    Cascade 探针

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    我们提供了 50 多款用于晶圆、封装和板级特性描述的分析型探针产品。我们的 RF、混合信号和 DC 探针系列专为应对众多探查环境的挑战而设计。

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      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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          Probe card manufacturing company

          我们的客户依靠我们成熟的产品和具有丰富经验的工程师来帮助他们当今的测试与测量挑战。

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